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v 主要应用:
Ø 粉末样品的物相定性与定量分析
Ø 计算结晶化度、晶粒大小
Ø 确定晶系、晶粒大小与畸变
Ø Rietveld定量分析
Ø 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
Ø In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
Ø 小角散射与纳米材料粒径分布
Ø 微区样品的分析
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