产品中心

Product

当前位置:首页  /  产品中心  /    /    /  超景深显微镜

超景深显微镜

简要描述:v本套系统主要用于材料表面形貌的观察;平面或三维测量

基础信息

产品型号

厂商性质

代理商

更新时间

2024-10-22

浏览次数

49
详细介绍

v 本套系统主要用于材料表面形貌的观察;平面或三维测量。可采用3D观测模式,对被测物形状,粗糙度,表面积等进行测量,可以做高度,宽度,横截面,角度,R值,表面积,体积,线粗糙度,面粗糙度等的测量分析。同时可以做材料断口、金相的观测,陶瓷,微流道,微加工,现代加工制造,MEMS研究,微纳制造等

v 光源类型:404nm半导体激光

v X/Y方向测量显示分辨率1nm

v Z向测量显示分辨率0.5 nm

v 面扫描速度:125Hz、线扫描速度≥7900Hz

v 角度特性:稳定测量倾角87.1度的斜面

v XY载物台电动运行范围:≥100mm*100mm


上一篇X-Ray

下一篇工业显微镜

在线留言

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

18319843923
18319843923

扫码加微信