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扫描电镜SEM

简要描述:vFE-SEM获得的图像分辨率高,信息丰富,样品处理相对简单,并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构,因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域v电子枪种类:冷场发射v二次电子图象分辨率:0.6nm@15kV

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更新时间

2024-10-22

浏览次数

53
详细介绍

v FE-SEM获得的图像分辨率高,信息丰富,样品处理相对简单,并且它可以观察、测量并分析样品的细微结构,因此被广泛应用于纳米技术、半导体、电子器件、生命科学、材料等领域

v 电子枪种类:冷场发射

v 二次电子图象分辨率:0.6 nm@15kV0.7nm@1kV

v 放大倍数:20-2,000,000x

v 加速电压:0.5-30kV


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